システム開発技術(全120問中13問目)

システムのテスト中に発見したバグを,原因別に集計して発生頻度の高い順に並べ,累積曲線を入れた図表はどれか。

出典:平成31年春期 問41

  • 散布図
  • 特性要因図
  • パレート図
  • ヒストグラム
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分野:マネジメント系
中分類:システム開発技術
小分類:システム開発技術
解説
パレート図は、分析対象の項目を値の大きい順に並べた棒グラフに、累積構成比を表す折れ線グラフを組み合わせた複合グラフで、主に複数の分析対象の中から管理対象とすべき重要な要素を識別するために使用されます。
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システム開発のテストにおいては、原因別のバグ件数を分析し、優先して取り組みべき問題点を明確にするために利用できます。したがって「ウ」が正解です。
  • 散布図は、縦軸・横軸に2項目の量や大きさ等を対応させて、分析対象のデータを打点した図で、2項目間の分布・相関関係を把握するのに使用されます。
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  • 特性要因図は、現れた特性(結果)とそれに影響を及ぼしたと思われる要因の関係を体系的に表わした図です。多くの要因が複雑に絡みあっているときに、直接的な原因と間接的な原因に分別したり、真の問題点を明らかにしたりすることができます。
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  • 正しい。
  • ヒストグラムは、収集したデータをいくつかの区間に分け、区間ごとに該当するデータの出現回数を棒グラフで示した図です。
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